三维立体V-I-F曲线测试仪;变频扫描V-I-F曲线测试仪;专业级V-I-F曲线测试仪;静态诊断电路板,不必外加电源即可进行测试;检测电路板上受损器件;可检测出具有泄漏型故障的器件;可检测出不相同的器件;将损坏风险降至最低;

功能强大的2500;含模拟器件测试库,可以直接对模拟器件进行参数测试.测量通道数:24个独立测试通道;驱动输出电压:-12V~+12V;驱动输出电流:200mA;可测量输入电压:±24V; 输入阻抗:大于1MΩ;IC测试封装型态:OP放大器/比较器/DACs/ADCs;

64通道数字集成电路在线、离线功能测试;64通道V-I曲线模拟通道测试(可测模拟器件);强大的元器件和整板仿真测试功能;阈值电平零界点扫描测试;短路追踪测试(低电阻测试);实时显示输出逻辑电平值;

ABI8200包含2个重要测试模块:abi-6400+2400;6400单独成为测量设备的外形;64通道数字集成电路在线、离线功能测试;64通道V-I曲线模拟通道测试(可测模拟器件);强大的元器件和整板仿真测试功能 4)阈值电平零界点扫描测试;

包含3个模块:ABI-6500+2500+1100;系统配有专用Premier 操作软件,系统中的所用测试项目可以同时操作使用,并按照需求制定测试工作流程,记录下测试者每一步的测试数据,形成宝贵的标准测试程序;

最大测试IC管脚数:256pin;扫描测试波形:正弦波,锯齿波,三角波;6种扫描频率选择：100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz；扫描电压(Vs):-20~+20V 步进0.1V;扫描源电阻(Rs):3种电阻供选择:1kΩ/10kΩ/100kΩ;扫描模式:矩阵扫描/一般扫描

最大测试IC管脚数:192pin,可以升级到256管脚;扫描测试波形:正弦波,锯齿波,三角波;6种扫描频率选择：100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz；扫描电压(Vs):-20~+20V 步进0.1V;扫描源电阻(Rs):3种电阻供选择:1kΩ/10kΩ/100kΩ;扫描模式:矩阵扫描/一般扫描

最大测试IC管脚数:128pin,可以升级到192/256管脚;扫描测试波形:正弦波,锯齿波,三角波;6种扫描频率选择：100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz；扫描电压(Vs):-20~+20V 步进0.1V;扫描源电阻(Rs):3种电阻供选择:1kΩ/10kΩ/100kΩ;扫描模式:矩阵扫描/一般扫描

电压输出范围:2.5V ～ 6V 可编程;最小调整分辨率:0.01V;过电压范围:3V ～ 7V 可编程电平阈值;最小调整分辨率:0.1V输出电流值:5A;短路电流:7A;短路时间:无期限(自动恢复);负载调整率:0.5%(20%～80% 负载变动);纹波电压:80mV pk-pk max;

宽:>100MHz;采样率:50MS/s (5GS/s ERS 模式);通道数:2通道+外部触发通道;耦合模式:AC,DC,GND;输入阻抗:1M Ω,25pF; 电压灵敏度:20mV to 2V /div;电压分辨率:8 bits;最大输入电压:100VDC;

量测通道:24 多任务信道+2实时对比通道+2同步脉冲信号信道;信号电压范围:2 V to 50 V peak to peak电压分辨率:8 to 12 bits;信号频率范围:37.5 Hz to 12 kHz;

测试通道数:64通道(可扩展到256通道);总线隔离信号信道数:4通道or 8通道;实时比对功能:需有二个64通道,或128通道;输出驱动电压:TTL/CMOS 标准;输出驱动电流:电流依不同的逻辑电平阈值有下列区分;

集成电路及电路板的标准测试功能;数字及模拟集成电路的功能测试;动态及静态测试;适合单点量测;自动化测试程序;可由使用者设计的操作软件;

可测试16脚以内通用的模拟器件，包括运放、光耦、比较器、A/D、D/A、电压调节器及部分特殊模拟芯片。软件可升级键入型号即可测试，结果显示在LCD屏上

使用、操作简便，输入IC型号，按测试键，测试结果即显示在LCD显示屏上;可识别无标记或无法辨别的芯片或列出代换的芯片

包含4个模块:abi-6400or6500,abi2500,abi-6300,abi-1100;具64个量测通道,八组输出隔离信号.一组5V /5A的电源输出.可进行集成电路的功能测试、电压测量、接脚连接测试、温度指数及V-I曲线量测.内建逻辑时序信号测量功能、EPROM 数据比对功能、数字集成电路搜寻功能等.

英国abi BM8600电路板维修测试仪,硬件系统测试功能化设计，可根据要求扩充测试功能和测试通道,软件系统测试过程流程化设计，可以通过非编程方式实现测试过程流程化：保存流程测试的所有步骤和数据，形成标准的测试流程，提高排故和测试效率。

V-I曲线测试功能;数字示波器功能;Active主动测试功能;FirmFlex信号强度测试功能;

二维V-I动态阻抗端口测试通道：2048路;二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道：2048路;三维V-I-F动态阻抗端口测试通道：2048路

测试32脚以内SRAM/DRAM;30线以内SIMM/SIP;容量:16K-116M

16脚以内的模拟器件:运放/光耦/比较器/A/D、D/A/电压调节器及部分特殊模拟芯片

40脚以下的数字 ic和存储器/接口芯片/MCU/MPU的测试;识别型号

二维V-I动态阻抗端口测试通道：1024路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道：1024路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道：1024路

二维集成电路专用V-I动态阻抗端口测试通道：256路;二维电路板专用V-I动态阻抗端口测试通道：64/128/192/256路（最大可扩充至2048路）;三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道：64/128/192/256路（最大可扩充至2048路)

二维V-I动态阻抗端口测试通道：512路,二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道：512路,三维V-I-F动态阻抗端口测试通道：512路

英国abi-4400电路板测试专用矩阵开关是一个16x16矩阵接口，提供256个交叉点，任何通道都可以连接，一次高达16个独立通道。英国abi-4400矩阵开关还可以用作多路复用器或解多路复用器，并且是自动化低到中等容量测试需求的经济替代方案。

RE1024是为高效、专业从电路板上求取高质量的电路图所设计。该系统包括：PC控制多通道硬件测量系统、SYSTEM8 Ultimate控制软件、专业绘图软件三部分。